Espectrómetro de fluorescencia de rayos X
Oficina de Supervisión Técnica y de Calidad (Directiva medioambiental)
RoHS / Rohs (China) / ELF / EN71
Juguete
Papel, cerámica, pintura, metal, etc.
Materiales eléctricos y electrónicos
Semiconductores, materiales magnéticos, soldaduras, componentes electrónicos, etc.
Acero, metales no ferrosos
Aleaciones, metales preciosos, escorias, menas, etc.
industria química
Productos minerales, fibras químicas, catalizadores, recubrimientos, pinturas, cosméticos, etc.
ambiente
Suelo, alimentos, residuos industriales, carbón en polvo.
Aceite
Aceite, aceite lubricante, aceite pesado, polímero, etc.
otro
Medición de espesores de revestimientos, carbón, arqueología, investigación de materiales y forense, etc.
● Tres tipos diferentes de sistemas de seguridad de radiación de rayos X, enclavamientos de software, enclavamientos de hardware e enclavamientos mecánicos eliminarán por completo las fugas de radiación en cualquier condición de trabajo.
● El XD-8010 cuenta con una ruta óptica de diseño exclusivo que minimiza las distancias entre la fuente de rayos X, la muestra y el detector mientras mantiene la flexibilidad para cambiar entre una variedad de filtros y colimadores.Esto mejora significativamente la sensibilidad y reduce el límite de detección.
● La cámara de muestra de gran volumen permite analizar muestras grandes directamente sin necesidad de daños o pretratamiento.
● Análisis simple con un solo botón mediante una interfaz de software conveniente e intuitiva.No se requiere formación profesional para realizar el funcionamiento básico del instrumento.
● El XD-8010 proporciona un análisis elemental rápido de elementos de S a U, con tiempos de análisis ajustables.
● Hasta 15 combinaciones de filtros y colimadores.Hay disponibles filtros de varios espesores y materiales, así como colimadores que van desde Φ1 mm a Φ7 mm.
● La potente función de formato de informes permite una personalización flexible de los informes de análisis generados automáticamente.Los informes generados se pueden guardar en formatos PDF y Excel.Los datos del análisis se almacenan automáticamente después de cada análisis. Se puede acceder a los datos históricos y las estadísticas en cualquier momento desde una sencilla interfaz de consulta.
● Con la cámara de muestra del instrumento, puede observar la posición de la muestra en relación con el foco de la fuente de rayos X.Se toman fotografías de la muestra cuando comienza el análisis y se pueden mostrar en el informe de análisis.
● La herramienta de comparación de espectros del software es útil para el análisis cualitativo y la identificación y comparación de materiales.
● Mediante el uso de métodos probados y efectivos de análisis cualitativo y cuantitativo, se puede garantizar la precisión de los resultados.
● La función de ajuste de curva de calibración abierta y flexible es útil para una variedad de aplicaciones, como la detección de sustancias nocivas.
Método de análisis de elementos nocivos
Sustancias peligrosas | Ejemplo | |
Análisis de cribado | Análisis detallado | |
Hg | Espectroscopia de rayos x | AAS |
Pb | ||
Cd | ||
Cr6 + | Espectroscopia de rayos X (análisis de Cr total) | Cromatografía iónica |
PBB / PBDE | Espectroscopía de rayos X (análisis de Br total) | GC-MS |
Proceso de gestión de la calidad
Medición de oligoelementos nocivos en muestras de polietileno, como Cr, Br, Cd, Hg y Pb.
• La diferencia de los valores dados y los valores reales de Cr, Br, Cd, Hg y Pb.
La diferencia de los valores dados y los valores reales de Cr, (Unidad: ppm)
Muestra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
Blanco | 0 | 0 |
Muestra 1 | 97,3 | 97,4 |
Muestra 2 | 288 | 309,8 |
Muestra 3 | 1122 | 1107.6 |
La diferencia de los valores dados y los valores reales de Br, (Unidad: ppm)
Muestra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
Blanco | 0 | 0 |
Muestra 1 | 90 | 89,7 |
Muestra 2 | 280 | 281,3 |
Muestra 3 | 1116 | 1114.1 |
La diferencia de los valores dados y los valores reales de Cd, (Unidad: ppm)
Muestra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
Blanco | 0 | 0 |
Muestra 1 | 8.7 | 9,8 |
Muestra 2 | 26,7 | 23,8 |
Muestra 3 | 107 | 107,5 |
La diferencia de los valores dados y los valores reales og Hg, (Unidad: ppm)
Muestra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
Blanco | 0 | 0 |
Muestra 1 | 91,5 | 87,5 |
Muestra 2 | 271 | 283,5 |
Muestra 3 | 1096 | 1089,5 |
La diferencia de los valores dados y los valores reales de Pb, (Unidad: ppm)
Muestra | Valor dado | Valor real (XD-8010) |
Blanco | 0 | 0 |
Muestra 1 | 93,1 | 91,4 |
Muestra 2 | 276 | 283,9 |
Muestra 3 | 1122 | 1120.3 |
Los datos de medición repetidos de la muestra 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Unidad: ppm)
Cr | Br | Cd | Hg | Pb | |
1 | 1128,7 | 1118,9 | 110,4 | 1079,5 | 1109.4 |
2 | 1126.2 | 1119,5 | 110,8 | 1072,4 | 1131,8 |
3 | 1111.5 | 1115,5 | 115,8 | 1068,9 | 1099,5 |
4 | 1122.1 | 1119,9 | 110,3 | 1086,0 | 1103.0 |
5 | 1115,6 | 1123,6 | 103,9 | 1080,7 | 1114,8 |
6 | 1136,6 | 1113.2 | 101,2 | 1068,8 | 1103.6 |
7 | 1129,5 | 1112.4 | 105,3 | 1079,0 | 1108.0 |
Promedio | 1124.3 | 1117,6 | 108,2 | 1076,5 | 1110.0 |
Desviación Estándar | 8,61 | 4.03 | 4,99 | 6.54 | 10,82 |
RSD | 0,77% | 0,36% | 4,62% | 0,61% | 0,98% |
Filtro secundario para elemento Pb (muestras de sustrato de acero), muestra: acero (Pb 113ppm)
1. La radiación de rayos X del tubo de rayos X primario se irradia a través de un colimador a la muestra.
2.Características de excitación de rayos X primarios de los elementos contenidos en los rayos X de la muestra a través del colimador secundario en el detector
3.Procesado a través del detector, formando datos de espectroscopia de fluorescencia
4.Análisis de datos de espectroscopia de computadora, análisis cualitativo y cuantitativo se completa
Modelo | NB-8010 | |
Análisis principio | Fluorescencia de rayos X de dispersión de energía análisis | |
Gama de elementos | S (16)U (92) cualquier elemento | |
Muestra | Plástico / metal / película / sólido / líquido / polvo, etc., de cualquier tamaño y forma irregular | |
Tubo de rayos-x | Objetivo | Mo |
Voltaje del tubo | (5-50) kV | |
Corriente de tubo | (10-1000) y otros | |
Irradiación de la muestra diámetro | F1mm-F7mm | |
Filtrar | 15 juegos de filtro compuesto son seleccionado automáticamente, y la conversión automática | |
Detector | Importaciones de Estados Unidos Detector Si-PIN | |
El procesamiento de datos placa de circuito | Importaciones de Estados Unidos, con el uso de conjuntos de detectores Si-PIN | |
Muestra observación | Con cámara CCD de 300.000 píxeles | |
La cámara de muestra Talla | 490 (L)´430 (ancho)´150 (H) | |
Método de análisis | Líneas de código lineales, cuadráticas, corrección de calibración de concentración y fuerza | |
Sistema operativo software | Windows XP, Windows7 | |
Gestión de datos | Gestión de datos de Excel, informes de prueba, Formato PDF / Excel guardado | |
Laboral ambiente | Temperatura: £ 30°C. Humedad £ 70% | |
Peso | 55 kg | |
Dimensiones | 550´450´395 | |
Fuente de alimentación | AC220V±10%, 50/60 Hz | |
Determinación condiciones | Ambiente atmosférico |