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Espectrómetro de fluorescencia de rayos X

Espectrómetro de fluorescencia de rayos X

Breve descripción:

Marca: NANBEI

Modelo: rayos X

El campo de los equipos electrónicos y eléctricos al que se dirige la directiva RoHS, el campo de la automoción al que se dirige la directiva ELV y los juguetes para niños, etc., son objeto de la directiva EN71, que restringe el uso de sustancias peligrosas contenidas en los productos.No solo en Europa, sino también cada vez más estricto a escala mundial.Nanbei XD-8010, con alta velocidad de análisis, alta precisión de muestra y buena reproducibilidad Sin daños, sin contaminación del medio ambiente.Estas ventajas técnicas pueden resolver fácilmente estas limitaciones.


Detalle del producto

Etiquetas de productos

Aplicaciones

Oficina de Supervisión Técnica y de Calidad (Directiva medioambiental)
RoHS / Rohs (China) / ELF / EN71
Juguete
Papel, cerámica, pintura, metal, etc.
Materiales eléctricos y electrónicos
Semiconductores, materiales magnéticos, soldaduras, componentes electrónicos, etc.
Acero, metales no ferrosos
Aleaciones, metales preciosos, escorias, menas, etc.
industria química
Productos minerales, fibras químicas, catalizadores, recubrimientos, pinturas, cosméticos, etc.
ambiente
Suelo, alimentos, residuos industriales, carbón en polvo.
Aceite
Aceite, aceite lubricante, aceite pesado, polímero, etc.
otro
Medición de espesores de revestimientos, carbón, arqueología, investigación de materiales y forense, etc.

Características

● Tres tipos diferentes de sistemas de seguridad de radiación de rayos X, enclavamientos de software, enclavamientos de hardware e enclavamientos mecánicos eliminarán por completo las fugas de radiación en cualquier condición de trabajo.
● El XD-8010 cuenta con una ruta óptica de diseño exclusivo que minimiza las distancias entre la fuente de rayos X, la muestra y el detector mientras mantiene la flexibilidad para cambiar entre una variedad de filtros y colimadores.Esto mejora significativamente la sensibilidad y reduce el límite de detección.
● La cámara de muestra de gran volumen permite analizar muestras grandes directamente sin necesidad de daños o pretratamiento.
● Análisis simple con un solo botón mediante una interfaz de software conveniente e intuitiva.No se requiere formación profesional para realizar el funcionamiento básico del instrumento.
● El XD-8010 proporciona un análisis elemental rápido de elementos de S a U, con tiempos de análisis ajustables.
● Hasta 15 combinaciones de filtros y colimadores.Hay disponibles filtros de varios espesores y materiales, así como colimadores que van desde Φ1 mm a Φ7 mm.
● La potente función de formato de informes permite una personalización flexible de los informes de análisis generados automáticamente.Los informes generados se pueden guardar en formatos PDF y Excel.Los datos del análisis se almacenan automáticamente después de cada análisis. Se puede acceder a los datos históricos y las estadísticas en cualquier momento desde una sencilla interfaz de consulta.
● Con la cámara de muestra del instrumento, puede observar la posición de la muestra en relación con el foco de la fuente de rayos X.Se toman fotografías de la muestra cuando comienza el análisis y se pueden mostrar en el informe de análisis.
● La herramienta de comparación de espectros del software es útil para el análisis cualitativo y la identificación y comparación de materiales.
● Mediante el uso de métodos probados y efectivos de análisis cualitativo y cuantitativo, se puede garantizar la precisión de los resultados.
● La función de ajuste de curva de calibración abierta y flexible es útil para una variedad de aplicaciones, como la detección de sustancias nocivas.

de (3)

Método de análisis de elementos nocivos

Sustancias peligrosas Ejemplo
Análisis de cribado Análisis detallado
Hg Espectroscopia de rayos x AAS
Pb
Cd
Cr6 + Espectroscopia de rayos X (análisis de Cr total) Cromatografía iónica
PBB / PBDE Espectroscopía de rayos X (análisis de Br total) GC-MS

Proceso de gestión de la calidad

de (4)

Ejemplos de aplicación

Medición de oligoelementos nocivos en muestras de polietileno, como Cr, Br, Cd, Hg y Pb.
• La diferencia de los valores dados y los valores reales de Cr, Br, Cd, Hg y Pb.
La diferencia de los valores dados y los valores reales de Cr, (Unidad: ppm)

Muestra Valor dado Valor real (XD-8010)
Blanco 0 0
Muestra 1 97,3 97,4
Muestra 2 288 309,8
Muestra 3 1122 1107.6

La diferencia de los valores dados y los valores reales de Br, (Unidad: ppm)

Muestra Valor dado Valor real (XD-8010)
Blanco 0 0
Muestra 1 90 89,7
Muestra 2 280 281,3
Muestra 3 1116 1114.1

La diferencia de los valores dados y los valores reales de Cd, (Unidad: ppm)

Muestra Valor dado Valor real (XD-8010)
Blanco 0 0
Muestra 1 8.7 9,8
Muestra 2 26,7 23,8
Muestra 3 107 107,5

La diferencia de los valores dados y los valores reales og Hg, (Unidad: ppm)

Muestra Valor dado Valor real (XD-8010)
Blanco 0 0
Muestra 1 91,5 87,5
Muestra 2 271 283,5
Muestra 3 1096 1089,5

 

La diferencia de los valores dados y los valores reales de Pb, (Unidad: ppm)

Muestra Valor dado Valor real (XD-8010)
Blanco 0 0
Muestra 1 93,1 91,4
Muestra 2 276 283,9
Muestra 3 1122 1120.3

 

Los datos de medición repetidos de la muestra 3 Cr1122ppm, Br116ppm, Cd10ppm, Hg1096ppm, Pb1122ppm (Unidad: ppm)

Cr Br Cd Hg Pb
1 1128,7 1118,9 110,4 1079,5 1109.4
2 1126.2 1119,5 110,8 1072,4 1131,8
3 1111.5 1115,5 115,8 1068,9 1099,5
4 1122.1 1119,9 110,3 1086,0 1103.0
5 1115,6 1123,6 103,9 1080,7 1114,8
6 1136,6 1113.2 101,2 1068,8 1103.6
7 1129,5 1112.4 105,3 1079,0 1108.0
Promedio 1124.3 1117,6 108,2 1076,5 1110.0
Desviación Estándar 8,61 4.03 4,99 6.54 10,82
RSD 0,77% 0,36% 4,62% 0,61% 0,98%

Filtro secundario para elemento Pb (muestras de sustrato de acero), muestra: acero (Pb 113ppm)

de (1)

Principio de funcionamiento

1. La radiación de rayos X del tubo de rayos X primario se irradia a través de un colimador a la muestra.
2.Características de excitación de rayos X primarios de los elementos contenidos en los rayos X de la muestra a través del colimador secundario en el detector
3.Procesado a través del detector, formando datos de espectroscopia de fluorescencia
4.Análisis de datos de espectroscopia de computadora, análisis cualitativo y cuantitativo se completa

de (2)

Parámetros técnicos

Modelo NB-8010
Análisis
principio
Fluorescencia de rayos X de dispersión de energía
análisis
Gama de elementos S (16)U (92) cualquier elemento
Muestra Plástico / metal / película / sólido /
líquido / polvo, etc., de cualquier tamaño y forma irregular
Tubo de rayos-x Objetivo Mo
Voltaje del tubo (5-50) kV
Corriente de tubo (10-1000) y otros
Irradiación de la muestra
diámetro
F1mm-F7mm
Filtrar 15 juegos de filtro compuesto son
seleccionado automáticamente, y la conversión automática
Detector Importaciones de Estados Unidos
Detector Si-PIN
El procesamiento de datos
placa de circuito
Importaciones de Estados Unidos, con
el uso de conjuntos de detectores Si-PIN
Muestra
observación
Con cámara CCD de 300.000 píxeles
La cámara de muestra
Talla
490 (L)´430 (ancho)´150 (H)
Método de análisis Líneas de código lineales, cuadráticas,
corrección de calibración de concentración y fuerza
Sistema operativo
software
Windows XP, Windows7
Gestión de datos Gestión de datos de Excel, informes de prueba,
Formato PDF / Excel guardado
Laboral
ambiente
Temperatura: £ 30°C. Humedad £ 70%
Peso 55 kg
Dimensiones 550´450´395
Fuente de alimentación AC220V±10%, 50/60 Hz
Determinación
condiciones
Ambiente atmosférico

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