microscopio de fuerza atómica afm
Microscopio de fuerza atómica (AFM), un instrumento analítico que se puede utilizar para estudiar la estructura de la superficie de materiales sólidos, incluidos los aislantes.Estudia la estructura de la superficie y las propiedades de una sustancia detectando la interacción interatómica extremadamente débil entre la superficie de la muestra que se va a analizar y un elemento sensible a micro-fuerzas.Será un par de extremo de micro voladizo extremadamente sensible de fuerza débil fijo, el otro extremo de la punta pequeña cerca de la muestra, luego interactuará con él, la fuerza hará que la deformación del micro voladizo o cambios de estado de movimiento.Al escanear la muestra, el sensor se puede utilizar para detectar estos cambios, podemos obtener la distribución de la información de fuerza, para obtener la morfología de la superficie de la información de nano resolución y la información de rugosidad de la superficie.
★ La sonda de escaneo integrada y el ciervo de muestra mejoraron la capacidad antiinterferente.
★ El láser de precisión y el dispositivo de posicionamiento de la sonda hacen que cambiar la sonda y ajustar el punto sea simple y conveniente.
★ Al utilizar la sonda de muestra de manera que se acerque, la aguja podría perpendicular al escaneo de la muestra.
★ Aproximación vertical de la sonda de muestreo de control de accionamiento del motor de pulso automático, para lograr un posicionamiento preciso del área de escaneo.
★ El área de interés de escaneo de muestra se puede mover libremente mediante el diseño de un dispositivo móvil de muestra de alta precisión.
★ El sistema de observación CCD con posicionamiento óptico logra la observación y el posicionamiento en tiempo real del área de escaneo de la muestra de la sonda.
★ El diseño del sistema de control electrónico de modularización facilitó el mantenimiento y la mejora continua del circuito.
★ La integración del circuito de control de modo de escaneo múltiple, coopera con el sistema de software.
★ Suspensión de resorte que simple y práctica mejora la capacidad antiinterferente.
| Modo de trabajo | Toma de FM, contacto opcional, fricción, fase, magnética o electrostática |
| Tamaño | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Rango de escaneo | 20 mmin XYdirección,2 mm en dirección Z. |
| Resolución de escaneo | 0,2 nm en dirección XY,0.05nm en dirección Z |
| Rango de movimiento de la muestra | ± 6,5 mm |
| Ancho de pulso del motor se aproxima | 10 ± 2 ms |
| Punto de muestreo de imágenes | 256 × 256,512 × 512 |
| Ampliación óptica | 4X |
| Resolución óptica | 2,5 mm |
| Rango de escaneo | 0,6 Hz ~ 4,34 Hz |
| Ángulo de escaneo | 0 ° ~ 360 ° |
| Control de escaneo | D / A de 18 bits en dirección XY,D / A de 16 bits en dirección Z |
| Muestreo de datos | A / D de 14 bits,Muestreo síncrono multicanal A / D doble de 16 bits |
| Reacción | Retroalimentación digital DSP |
| Tasa de muestreo de retroalimentación | 64,0 KHz |
| Interfaz de computadora | USB2.0 |
| Entorno operativo | Windows98 / 2000 / XP / 7/8 |