Marca: NANBEI
Modelo: AFM
Microscopio de fuerza atómica (AFM), un instrumento analítico que se puede utilizar para estudiar la estructura de la superficie de materiales sólidos, incluidos los aislantes.Estudia la estructura de la superficie y las propiedades de una sustancia detectando la interacción interatómica extremadamente débil entre la superficie de la muestra que se va a analizar y un elemento sensible a micro-fuerzas.